Производитель: AJA Inc. США

Предназначена: для получения однородных, многослойных и объёмно-гетерогенных пленок металлических, диэлектрических и композиционных, в том числе магнитных, материалов в диапазоне толщин 5-1000 нм.

Основные характеристики:

• 5 независимых магнетронов (2 на постоянном токе, 3 на токе высокой частоты) обеспечивают напыление многослойных и композитных металлических, диэлектрических и магнитных пленок
• Безмасляная система откачки на базе турбомолекуляного насоса, обеспечивающая вакуум не хуже 5×10^-7 мм.рт.ст.
• Подложкодержатель с температурой прогрева до 800 °С и с приводом вращения. Имеется сменный подложкодержатель, охлаждаемый жидким азотом
• Три независимые линии подачи газов
• Вакуумный шлюз с безмасляной откачкой
• Система компьютерного управления процессом формирования пленок

Контактное лицо: Лепаловский В.Н., тел. 261-28-75

Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.276^а

Предназначены: для получения и термообработки однородных и многослойных металлических, диэлектрических и композиционных плёнок в диапазоне толщин 5-1000 нм.

Основные характеристики:

• Безмасленые система откачки на базе турбомолекуляного насоса, обеспечивающая вакуум не хуже 1×10^-6 мм рт. ст.
• Режим высокочастотного ионно-плазменного распыления в присутствии магнитного поля
• Подложкодержатель с температурой прогрева до 600 °С
• Секторная конструкция мишеней

Контактное лицо: Лепаловский В.Н., тел. 261-28-75

Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.276^б

Производитель:  ООО «Аверон», Россия

Предназначено: для получения однородных металлических сплавов в защитной газовой среде в термостойких тиглях (корунд, кварц) с последующей закалкой расплава в водо- охлаждаемую изложницу

Основные характеристики:

• Максимальная температура разогрева – 1400 °С
• Масса выплавляемых слитков сплава  – 100 г.
• Остаточное давление газов в плавильной камере не выше
  5×10^-3 мм.рт.ст.
• Защитные газовые среды – аргон, гелий
• Манипулятор для выполнения закалки расплава в медную водоохлаждаемую изложницу
• Система контроля за параметрами процесса плавки

Контактное лицо: Андреев С.В., тел. 261-28-75

Размещение: центр наукоемких технологий НИИ ФПМ, к.012

Производитель:  ООО «Термотехника», Россия

Предназначена: для осуществления термических процессов в вакууме при температуре до 1600°С. Термические процессы осуществляются по программе с помощью системы автоматического регулирования нагревом, выполненной на  базе  цифрового микропроцессорного прибора.

Основные характеристики:

• Максимальная температура разогрева – 1600 °С
• Размеры рабочего пространства (ширина/ длина/ высота) – 100/300/100 мм
• Масса садки – 25 кг
• Предельное остаточное давление газов в камере (в холодном состоянии электропечи) – 5×10^-5 мм.рт.ст.
• Равномерность температуры в рабочем пространстве электропечи
  без загрузки  при номинальной температуре  ±5 °С
• Мощность установленная – 20 кВт

Контактное лицо: Андреев С.В., тел. 261-28-75

Размещение: Центр наукоемких технологий НИИ ФПМ, к.012

Производитель:  УрГУ им. А.М.Горького

Предназначена: для получения образцов металлических сплавов в форме лент или флейксов путем закалки струи жидкого металла (расплава) на поверхности быстровращающегося массивного металлического барабана

Основные характеристики:

• Максимальная температура разогрева – 1400 °С
• Масса расплава   –  до 40 г.
• Давление остаточных газов в разливочной камере не выше
  5×10^-3 мм.рт.ст.
• Защитные газовые среды – аргон, гелий
• Манипулятор для сканирования струи расплава по поверхности барабана
• Система контроля за параметрами процесса нагрева и спиннингования

Контактное лицо: Андреев С.В., тел. 261-28-75

Размещение: Центр наукоемких технологий НИИ ФПМ, к.012

Производитель:  Coherent, Германия

Предназначена: для единичного и мелкосерийного производства сложных изделий из специальных металлических порошков. Работает со многими металлами и сплавами. Также используется при отработке режимов сплавления (НИР) с целью получения оптимальных физико-механических свойств изделий.

Основные характеристики:

• Практическая толщина слоя 20-100 мкм
• Минимальная толщина стенки 80 мкм
• Скорость сканирования до 6 м/с
• Современное программное обеспечение, позволяющее работать с любыми CAD-данными
• Система рециркуляции инертного газа (ламинарный поток) при построении изделий, безопасная структура фильтров, обеспечивающих удаление из камеры построения побочных продуктов плавления.

Контактное лицо: Мальцева В.Е., тел. 389-95-67

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.169

Производитель: Veeco Instruments Inc., США

Предназначен: для автоматического определения профиля поверхности твёрдых объектов контактным способом.

Основные характеристики:

• Разрешение по вертикали -1 Å
• Повторяемость измерений– 6 Å
• Стилус с радиусом закругления 12,5 mm
• Акустический колпак, антивибрационный стол

Контактное лицо: Лепаловский В.Н., тел. 261-28-75

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.279

Производитель: Rigaku Corporation, Япония

Назначение прибора:

• Неразрушающий элементный анализ тонких поверхностных слоёв твёрдых материалов;
• Неразрушающий элементный анализ порошков и керамик
• Анализ профиля состава тонких пленок по толщине
• Элементный анализ высушенных растворов (разрушающий анализ)

Прибор может эффективно использоваться для научных исследований в области материаловедения, при проверке качества изделий микроэлектроники, для контроля примесного состава продуктов, для судебной экспертизы и для многих других целей.

Основные характеристики:

• Источники первичного излучения рентгеновские трубки Mo и Cu мощностью 0,05 кВт
• Регистрируемые элементы от Al до U
• Чувствительность – 10^-7 вес.%
• Угол падения первичного излучения варьируется в пределах 0–2°
• Разрешение углового сканирования – 0,01°
• Глубина проникновения излучения до 500 нм
• Измерения выполняются в воздушной среде
• Максимальные размеры образцов  100x100х5 мм.

Контактное лицо: Фещенко А.А., тел. 389-95-67

Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.284

Производитель: OLYMPUS Corporation, Япония

Предназначен: для наблюдения малых объектов в проходящем и отражённом свете

Основные характеристики:

• Система сменных объективов, обеспечивающих увеличение до 600
• Оснащён цифровой видеокамерой

Контактное лицо: Памятных Л.А., тел. 261-75-28

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.360

Производитель:  Evico magnetics GmbH, Германия

Предназначен: для наблюдения магнитной доменной структуры с использование полярного, меридионального и экваториального эффектов Керра, а также для автоматического измерения магнитооптических петель гистерезиса

Основные характеристики:

• создан на основе поляризационного микроскопа Carl Zeiss высокого разрешения с линейными размерами области наблюдения 0.1-5 мм;
• включает дополнительный обзорный поляризационный микроскоп с линейными размерами области наблюдения 8 - 30 мм;
• источник света – 8 высокостабильных светодиодов с высокой интенсивностью излучения (λ ~ 450 нм)
• малошумящая цифровая фотокамера с принудительным охлаждением (пр. охл.: -35^оС) и разрешением 1344 x 1024 пкс.;
• опция горизонтального магнитного поля (0.1 - 1300 мТ; пр. охл.);
• опция вертикального магнитного поля (≤900 мТ; пр. охл.);
• опция наблюдения локальных свойств плёнок на подложках диаметром до 76 мм.

Контактное лицо: Фещенко А.А., тел. 389-95-67

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.373

Производитель: НТ-МДТ Спектрум Инструментс, Россия

Предназначена: Исследование рельефа поверхности методами атомно-силовой микроскопии, а также исследование доменной структуры методами магнито-силовой микроскопии.

Основные характеристики:

• Максимальный диапазон сканирования 100×100×10 мкм
• Измерения в продольном магнитном поле напряженностью до 2 T
• Измерение в поперечном магнитном поле напряженностью до 1 Т
• Термостолик с возможностью нагрева образца до 150 °С.

Контактное лицо: Горьковенко А.Н., (a.n.gorkovenko@urfu.ru)

Размещение: Куйбышева 48, к.009

Производитель: JEOL, Япония

Предназначена: Исследование микроструктуры объектов методами просвечивающей электронной микроскопии.

Основные характеристики:

• Ускоряющее напряжение 200 кВ
• Увеличение x50-x1 200 000
• Рентгеновский микроанализ (EDS)
• Модуль сканирования в режимах обратно рассеянных электронов и вторичных электронов.

Контактное лицо: Горьковенко А.Н., (a.n.gorkovenko@urfu.ru)

Размещение: Куйбышева 48, к.001

Предназначена: Проведение исследовании микроструктуры образцов методами просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии.

Основные характеристики:

• Ускоряющее напряжение 5 кВ
• Полевой эмиссионный катод Шоттки
• Увеличение от x2200 до x230 000 в режиме ПЭМ, до x100 000 в режиме СЭМ.

Контактное лицо: Горьковенко А.Н., (a.n.gorkovenko@urfu.ru)

Размещение: Куйбышева 48, к.009

Производитель: Quantum Design Inc., США

Предназначен: для проведения в автоматическом режиме в широких диапазонах температур и магнитных полей на различных объектах следующих измерений:

• Зависимостей намагниченности от напряжённости магнитного поля
• Температурных зависимостей намагниченности в постоянном магнитном поле
• Комплексной магнитной восприимчивости в переменном магнитном поле

Основные характеристики:

• Интервал магнитных полей не уже  ± 7 Тл
• Однородность поля в рабочем объеме ± 2 см не хуже 0,01 %
• Стабильность магнитного поля не хуже 10^-6/час
• Интервал рабочих температур не уже 1,9 ¸ 700 K
• Чувствительность при измерениях магнитного момента не хуже
  10^-8 Гс.см³ (emu)
• Максимальная величина измеряемого магнитного момента не менее 5 Гс.см³ (emu)
• Чувствительность при измерениях магнитной восприимчивости в переменном магнитном поле не хуже 10^-8 Гс.см³ (emu)
• Интервал частот переменного магнитного поля не уже  0,01 ¸ 500 Гц
• Интервал амплитуд переменного магнитного поля не уже 0,01 ¸ 5 Гс
• Нестабильность температуры около образца не выше ± 0,005 К
• Погрешность в установке температуры не более 0,5 %
• Диапазон скоростей изменения температуры не уже 0.1¸10 К/мин
• Обеспечивается быстрая смена образца при любой температуре в рабочем диапазоне
• Предусмотрена возможность контролируемого перевода сверхпроводящего соленоида в нормальное состояние
• Обеспечивается возможность снижения остаточного магнитного поля соленоида до значений не более 0,05 Гс.

Контактное лицо: Степанова Е.А., тел. 261-68-23

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.169

Производитель: Quantum Design Inc., США

Измерительный комплекс оборудован модулями: Electrical Transport Option (ETO) – опция исследования электротранспортных свойств, Heat Capacity Option (HC) – опция измерения теплоемкости, Vibrating Sample Magnetometer (VSM) – вибрационный магнитометр.

Основные характеристики:

• Диапазон установки температуры от 1,8 до 400 K
• Индукция магнитного поля в центре сверхпроводящего соленоида от – 9 до + 9 Тл
• диапазон измерений электрического сопротивления от 10^-8 до 5 ∙ 10⁶ Ом
• Диапазон варьирования частоты переменного электрического тока при измерении электротранспортных свойств от 0,1 до 200 Гц
• Амплитуда переменного и постоянного тока при измерении электротранспортных свойств от 10^-8 до 10^-1 А
• Диапазон измерения магнитного момента от 10^-7 до 100 A·м²/кг
• Диапазон температур при измерении магнитного момента 1,8 до 1000 K

Контактное лицо: Степанова Е.А., тел. 261-68-23

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.169

Производитель: Lake Shore Cryotronics, США

Предназначен: для измерения магнитного момента объёмных и плёночных образцов

Основные характеристики:

• Чувствительность –10^-7 emu
• Величины измеряемого магнитного момента от 10^-7 до 1000 emu
• Диапазон температур 4,2-1300 К
• Напряжённость магнитного поля до 23 кЭ;
• Предусмотрено вращение образца
• Оснащён откачной системой и катушками Гельмгольца.
• Имеет опцию измерения электросопротивления 

Контактное лицо: Балымов К.Г., тел. 261-68-23

Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.285

Производитель: УрГУ им. А.М.Горького

Предназначен: для измерения магнитного момента плёночных образцов при комнатной температуре в зависимости от напряжённости магнитного поля

Основные характеристики:

• Чувствительность – 10^-4 emu
• Диапазон измеряемых магнитных моментов от 10^-3 до 10 emu
• Напряжённость магнитного поля до 15 кЭ

Контактное лицо: Балымов К.Г., тел. 261-68-23

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.373

Производитель: УрГУ им. А.М.Горького

Предназначена: для измерения зависимостей электрического сопротивления плёночных образцов от напряжённости магнитного поля при комнатной температуре.

Основные характеристики:

• Реализованы двухзондовый и четырёхзондовый методы измерений
• Диапазон измеряемых значений электросопротивления от 0,1 до 1000 Ом
• Напряжённость двуполярного магнитного поля до 100 Э
• Позволяет проводить испытания магниторезистивных сенсоров

Контактное лицо: Балымов К.Г., тел. 261-68-23

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.279

Производитель: Agilent Technologies, США

Предназначен: для прецизионного измерения полного электросопротивления элементов электрических цепей в широком интервале частот протекающего тока

Основные характеристики:

• Измеряемые параметры – |Z|, |Y|, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs(R), Rp, X, G, B, D, Q, θz, θy, |Γ|, Γx, Γy, θγ
• Диапазон измеряемых значений модуля импеданса от 200 мОм до 20 кОм
• Погрешность измерения импеданса: +/- 0.8%
• Частота зондирующего тока от 1 МГц до 3 ГГц.
• Разрешение по частоте зондирующего тока – 1 мГц.

Контактное лицо: Волчков С.О., тел. 261-68-23

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.269^б

Производитель: Sartorius, Германия

Предназначены: для лабораторных исследованиях при высоких требованиях к точности и надёжности измерений, большом потоке измерений, для организации весовых рабочих мест; могут использоваться в рамках системы обеспечения качества

Основные характеристики:

• Предел взвешивания – 230 г
• Цена деления – 10^-5 г
• Класс точности - 1
• Калибровка автоматическая
• Графический дисплей с подсветкой и текстовые подсказки оператору
• Функция калибровки и юстировки isoCAL
• Протоколирование в соответствии со стандартами ISO|GLP и возможность конфигурации протокола
• Буквенно-цифровая идентификация образцов
• Износостойкая клавиатура со специальным покрытием
• Интерфейс связи Sartorius RS232 и второй интерфейс для принтера

Контактное лицо: Степанова Е.А., тел. 261-68-23

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.277

Производитель: НИИ СТТ (завод «Эдельвейс»)

Предназначена:для измерения  магнитных и электрических характеристик магнитопроводов из магнитомягких материалов; обеспечивается автоматическое измерение и расчет параметров магнитопровода.

Основные характеристики:

• Диапазон частот перемагничивания 0,05-100 кГц
• Высокая точность измерений
• Измерение динамических магнитных характеристик согласно нормативно-технической документации
• Специальное программное обеспечение для автоматического измерения параметров магнитопровода
• Ведение базы данных измерений и формирование отчетов

Контактное лицо: Катаев В.А., тел. 261-68-23

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.376

Производитель: ООО «Перспективные технологии и консультации», Россия, г. Москва

Предназначена: для измерения прямым методом адиабатического изменения температуры, индуцируемого изменением магнитного поля, а так же теплоемкости в различных магнитных полях

Основные характеристики:

• рабочий диапазон температур – от 110 до 360 K;
• диапазон магнитных полей – от 0.018 до 1.755 Тл;
• скорость изменения магнитного поля – от 0.25 до 4.7 Тл/сек;
• погрешность измерения адиабатического
  изменения температуры – 0.1 K;
• относительная погрешность измерения теплоемкости – 3%;

Контактное лицо: Аникин М.С., тел. 261-53-84

Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.375^в

Производитель:  Magnet Physik, Германия

Предназначен: для измерения магнитных гистерезисных характеристик магнитотвердых материалов в диапазоне температур 293 – 473 °С

Основные характеристики:

• Напряженность магнитного поля до 32 кЭ
• Нагрев образца до 200 °С..
• Комплект компенсированных измерительных катушек для измерения свойств цилиндрических образцов диаметром от 5 до 40 мм
• Комплект калибровочных сертифицированных образцов
• Референсный образец магнитотвердого материала

Контактное лицо: Волегов А.С., тел. 261-75-28

Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.283