Главная Контакты
RU EN
Slide 2

АКТУАЛЬНЫЕ ДОСТИЖЕНИЯ

Slide 3

СОХРАНЯЯ НАУЧНЫЕ ТРАДИЦИИ

Slide 4

СОВРЕМЕННЫЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНЫЕ ПРОГРАММЫ ФИЗИКА МАГНИТНЫЙ ЯВЛЕНИЙ | СТАНДАРТИЗАЦИЯ И МЕТРОЛОГИЯ

Slide 5

НАНОЧАСТИЦЫ FeNi

Slide 6

ПОВЕРХНОСТЬ АНОДИРОВАННОГО АЛЮМИНИЯ

Slide 7

ВЫСОКОКВАЛИФИЦИРОВАННЫЕ СПЕЦИАЛИСТЫ

Slide 8

СОВРЕМЕННОЕ ОБОРУДОВАНИЕ

кафедра магнетизма
и магнитных наноматериалов
отдел магнетизма
твердых тел нии фпм

Технологическое оборудование

1.1. Установка магнетронного напыления пленок ATC ORION 8 UHV

Производитель: AJA Inc. США

Предназначена: для получения однородных, многослойных и объёмно-гетерогенных пленок металлических, диэлектрических и композиционных, в том числе магнитных, материалов в диапазоне толщин 5-1000 нм.

Основные характеристики:

  • 5 независимых магнетронов (2 на постоянном токе, 3 на токе высокой частоты) обеспечивают напыление многослойных и композитных металлических, диэлектрических и магнитных пленок
  • Безмасляная система откачки на базе турбомолекуляного насоса, обеспечивающая вакуум не хуже 5×10-7 мм.рт.ст.
  • Подложкодержатель с температурой прогрева до 800 °С и с приводом вращения. Имеется сменный подложкодержатель, охлаждаемый жидким азотом
  • Три независимые линии подачи газов
  • Вакуумный шлюз с безмасляной откачкой
  • Система компьютерного управления процессом формирования пленок

Контактное лицо: Лепаловский В.Н., email: vladimir.lepalovsky@urfu.ru

Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.276а

1.2. Модернизированные установки ионного высокочастотного распыления УРМ3-013 и УРМ3-014

Предназначены: для получения и термообработки однородных и многослойных металлических, диэлектрических и композиционных плёнок в диапазоне толщин 5-1000 нм.

Основные характеристики:

  • Безмасленые система откачки на базе турбомолекуляного насоса, обеспечивающая вакуум не хуже 1×10-6 мм рт. ст.
  • Режим высокочастотного ионно-плазменного распыления в присутствии магнитного поля
  • Подложкодержатель с температурой прогрева до 600 °С
  • Секторная конструкция мишеней

Контактное лицо: Лепаловский В.Н., email: vladimir.lepalovsky@urfu.ru

Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.276б

1.3. Устройство индукционного плавления сплавов УЛП

Производитель:  ООО «Аверон», Россия

Предназначено: для получения однородных металлических сплавов в защитной газовой среде в термостойких тиглях (корунд, кварц) с последующей закалкой расплава в водо- охлаждаемую изложницу

Основные характеристики:

  • Максимальная температура разогрева – 1400 °С
  • Масса выплавляемых слитков сплава  – 100 г.
  • Остаточное давление газов в плавильной камере не выше
    5×10-3 мм.рт.ст.
  • Защитные газовые среды – аргон, гелий
  • Манипулятор для выполнения закалки расплава в медную водоохлаждаемую изложницу
  • Система контроля за параметрами процесса плавки

Контактное лицо: Андреев С.В.,email: sergey.andreev@urfu.ru

Размещение: центр наукоемких технологий НИИ ФПМ, к.012

1.4. Электропечь сопротивления камерная вакуумная СНВЭ-1.3.1/16

Производитель:  ООО «Термотехника», Россия

Предназначена: для осуществления термических процессов в вакууме при температуре до 1600°С. Термические процессы осуществляются по программе с помощью системы автоматического регулирования нагревом, выполненной на  базе  цифрового микропроцессорного прибора.

Основные характеристики:

  • Максимальная температура разогрева – 1600 °С
  • Размеры рабочего пространства (ширина/ длина/ высота) – 100/300/100 мм
  • Масса садки – 25 кг
  • Предельное остаточное давление газов в камере (в холодном состоянии электропечи) – 5×10-5 мм.рт.ст.
  • Равномерность температуры в рабочем пространстве электропечи
    без загрузки  при номинальной температуре  ±5 °С
  • Мощность установленная – 20 кВт

Контактное лицо: Андреев С.В., email: sergey.andreev@urfu.ru

Размещение: Центр наукоемких технологий НИИ ФПМ, к.012

1.5. Установка для получения быстрозакаленных сплавов по методике спиннингования

Производитель:  УрГУ им. А.М.Горького

Предназначена: для получения образцов металлических сплавов в форме лент или флейксов путем закалки струи жидкого металла (расплава) на поверхности быстровращающегося массивного металлического барабана

Основные характеристики:

  • Максимальная температура разогрева – 1400 °С
  • Масса расплава   –  до 40 г.
  • Давление остаточных газов в разливочной камере не выше
    5×10-3 мм.рт.ст.
  • Защитные газовые среды – аргон, гелий
  • Манипулятор для сканирования струи расплава по поверхности барабана
  • Система контроля за параметрами процесса нагрева и спиннингования

Контактное лицо: Андреев С.В., email: sergey.andreev@urfu.ru

Размещение: Центр наукоемких технологий НИИ ФПМ, к.012

1.6. Аддитивная система селективного лазерного плавления Creator RA

Производитель:  Coherent, Германия

Предназначена: для единичного и мелкосерийного производства сложных изделий из специальных металлических порошков. Работает со многими металлами и сплавами. Также используется при отработке режимов сплавления (НИР) с целью получения оптимальных физико-механических свойств изделий.

Основные характеристики:

  • Практическая толщина слоя 20-100 мкм
  • Минимальная толщина стенки 80 мкм
  • Скорость сканирования до 6 м/с
  • Современное программное обеспечение, позволяющее работать с любыми CAD-данными
  • Система рециркуляции инертного газа (ламинарный поток) при построении изделий, безопасная структура фильтров, обеспечивающих удаление из камеры построения побочных продуктов плавления.

Контактное лицо: Мальцева В.Е., email: viktoria.maltseva@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.169

1.7. 3D принтер по металлу «3DLAM Mini PRO»

Производитель: ООО «3ДЛАМ ИНДАСТРИАЛ», Россия

Предназначен: для послойное селективного лазерного сплавления металлического порошка под воздействием лазера.

Основные характеристики:

  • Волоконный лазер IPG Photonics мощностью 300 Вт
  • Скорость сканирования до 10 м/с
  • Минимальный диаметр лазерного пучка на поверхности построения - 50 мкм
  • Толщина наносимого слоя металлокерамической композиции 20-100 мкм
  • Диаметр платформы построения - 110 мм
  • Используемые типы защитного газа: аргон, гелий, азот
  • Обладает системой рециркуляции защитного газа в рабочем режиме.

Контактное лицо: Шалагинов А.Н., email: Arkady.shalaginov@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.169а

Аналитическое оборудование

2.1. Стилусный профилометр Dektak 150

Производитель: Veeco Instruments Inc., США

Предназначен: для автоматического определения профиля поверхности твёрдых объектов контактным способом.

Основные характеристики:

  • Разрешение по вертикали -1 Å
  • Повторяемость измерений– 6 Å
  • Стилус с радиусом закругления 12,5 mm
  • Акустический колпак, антивибрационный стол

Контактное лицо: Лепаловский В.Н.,email: vladimir.lepalovsky@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.158

2.2. Рентгеновский флуресцентный спектрометр на полном отражении Nanohunter

Производитель: Rigaku Corporation, Япония

Назначение прибора:

  • Неразрушающий элементный анализ тонких поверхностных слоёв твёрдых материалов;
  • Неразрушающий элементный анализ порошков и керамик
  • Анализ профиля состава тонких пленок по толщине
  • Элементный анализ высушенных растворов (разрушающий анализ)

Прибор может эффективно использоваться для научных исследований в области материаловедения, при проверке качества изделий микроэлектроники, для контроля примесного состава продуктов, для судебной экспертизы и для многих других целей.

Основные характеристики:

  • Источники первичного излучения рентгеновские трубки Mo и Cu мощностью 0,05 кВт
  • Регистрируемые элементы от Al до U
  • Чувствительность – 10-7 вес.%
  • Угол падения первичного излучения варьируется в пределах 0–2°
  • Разрешение углового сканирования – 0,01°
  • Глубина проникновения излучения до 500 нм
  • Измерения выполняются в воздушной среде
  • Максимальные размеры образцов  100x100х5 мм.

Контактное лицо: Фещенко А.А., email: a.a.feshchenko@urfu.ru

Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.009

2.3. Оптический микроскоп Olympus

Производитель: OLYMPUS Corporation, Япония

Предназначен: для наблюдения малых объектов в проходящем и отражённом свете

Основные характеристики:

  • Система сменных объективов, обеспечивающих увеличение до 600
  • Оснащён цифровой видеокамерой

Контактное лицо: Памятных Л.А., email: Lidia.Pamyatnykh@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.360

2.4. Магнитооптический Керр-микроскоп

Производитель:  Evico magnetics GmbH, Германия

Предназначен: для наблюдения магнитной доменной структуры с использование полярного, меридионального и экваториального эффектов Керра, а также для автоматического измерения магнитооптических петель гистерезиса

Основные характеристики:

  • создан на основе поляризационного микроскопа Carl Zeiss высокого разрешения с линейными размерами области наблюдения 0.1-5 мм;
  • включает дополнительный обзорный поляризационный микроскоп с линейными размерами области наблюдения 8 - 30 мм;
  • источник света – 8 высокостабильных светодиодов с высокой интенсивностью излучения (λ ~ 450 нм)
  • малошумящая цифровая фотокамера с принудительным охлаждением (пр. охл.: -35оС) и разрешением 1344 x 1024 пкс.;
  • опция горизонтального магнитного поля (0.1 - 1300 мТ; пр. охл.);
  • опция вертикального магнитного поля (≤900 мТ; пр. охл.);
  • опция наблюдения локальных свойств плёнок на подложках диаметром до 76 мм.

Контактное лицо: Горьковенко А.Н., email: a.n.gorkovenko@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.373

2.5. Атомно-силовой микроскоп Ntegra Prima с модулем температурного контроля и модулем для работы во внешних магнитных полях

Производитель: НТ-МДТ Спектрум Инструментс, Россия

Предназначена: Исследование рельефа поверхности методами атомно-силовой микроскопии, а также исследование доменной структуры методами магнито-силовой микроскопии.

Основные характеристики:

  • Максимальный диапазон сканирования 100×100×10 мкм
  • Измерения в продольном магнитном поле напряженностью до 2 T
  • Измерение в поперечном магнитном поле напряженностью до 1 Т
  • Термостолик с возможностью нагрева образца до 150 °С.

Контактное лицо: Москалев М.Е., email: Mikhail.Moskalev@urfu.ru

Размещение: Куйбышева 48, к.009

2.6. Просвечивающий электронный микроскоп JEOL 2100

Производитель: JEOL, Япония

Предназначена: Исследование микроструктуры объектов методами просвечивающей электронной микроскопии.

Основные характеристики:

  • Ускоряющее напряжение 200 кВ
  • Увеличение x50-x1 200 000
  • Рентгеновский микроанализ (EDS)
  • Модуль сканирования в режимах обратно рассеянных электронов и вторичных электронов.

Контактное лицо: Горьковенко А.Н., email: a.n.gorkovenko@urfu.ru

Размещение: Куйбышева 48, к.001

2.7. Просвечивающий низковольтный электронный микроскоп LVEM 5 c разгонным напряжением 5 кВ

Предназначена: Проведение исследовании микроструктуры образцов методами просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии.

Основные характеристики:

  • Ускоряющее напряжение 5 кВ
  • Полевой эмиссионный катод Шоттки
  • Увеличение от x2200 до x230 000 в режиме ПЭМ, до x100 000 в режиме СЭМ.

Контактное лицо: Горьковенко А.Н., email: a.n.gorkovenko@urfu.ru

Размещение: Куйбышева 48, к.009

Измерительное оборудование

3.1. СКВИД-магнитометр MPMS XL7

Производитель: Quantum Design Inc., США

Предназначен: для проведения в автоматическом режиме в широких диапазонах температур и магнитных полей на различных объектах следующих измерений:

  • Зависимостей намагниченности от напряжённости магнитного поля
  • Температурных зависимостей намагниченности в постоянном магнитном поле
  • Комплексной магнитной восприимчивости в переменном магнитном поле

Основные характеристики:

  • Интервал магнитных полей не уже  ± 7 Тл
  • Однородность поля в рабочем объеме ± 2 см не хуже 0,01 %
  • Стабильность магнитного поля не хуже 10-6/час
  • Интервал рабочих температур не уже 1,9 ¸ 700 K
  • Чувствительность при измерениях магнитного момента не хуже
    10-8 Гс.см3 (emu)
  • Максимальная величина измеряемого магнитного момента не менее 5 Гс.см3 (emu)
  • Чувствительность при измерениях магнитной восприимчивости в переменном магнитном поле не хуже 10-8 Гс.см3 (emu)
  • Интервал частот переменного магнитного поля не уже  0,01 ¸ 500 Гц
  • Интервал амплитуд переменного магнитного поля не уже 0,01 ¸ 5 Гс
  • Нестабильность температуры около образца не выше ± 0,005 К
  • Погрешность в установке температуры не более 0,5 %
  • Диапазон скоростей изменения температуры не уже 0.1¸10 К/мин
  • Обеспечивается быстрая смена образца при любой температуре в рабочем диапазоне
  • Предусмотрена возможность контролируемого перевода сверхпроводящего соленоида в нормальное состояние
  • Обеспечивается возможность снижения остаточного магнитного поля соленоида до значений не более 0,05 Гс.

Контактное лицо: Степанова Е.А., email: elena.stepanova@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.169

3.2. Измерительный комплекс РРМS DynaCool 9T

Производитель: Quantum Design Inc., США

Измерительный комплекс оборудован модулями: Electrical Transport Option (ETO) – опция исследования электротранспортных свойств, Heat Capacity Option (HC) – опция измерения теплоемкости, Vibrating Sample Magnetometer (VSM) – вибрационный магнитометр.

Основные характеристики:

  • Диапазон установки температуры от 1,8 до 400 K
  • Индукция магнитного поля в центре сверхпроводящего соленоида от – 9 до + 9 Тл
  • диапазон измерений электрического сопротивления от 10-8 до 5 ∙ 106 Ом
  • Диапазон варьирования частоты переменного электрического тока при измерении электротранспортных свойств от 0,1 до 200 Гц
  • Амплитуда переменного и постоянного тока при измерении электротранспортных свойств от 10-8 до 10-1 А
  • Диапазон измерения магнитного момента от 10-7 до 100 A·м2/кг
  • Диапазон температур при измерении магнитного момента 1,8 до 1000 K

Контактное лицо: Волегов А.С., email: alexey.volegov@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.169

3.3. Вибрационный магнитометр 7407 VSM

Производитель: Lake Shore Cryotronics, США

Предназначен: для измерения магнитного момента объёмных и плёночных образцов

Основные характеристики:

  • Чувствительность –10-7 emu
  • Величины измеряемого магнитного момента от 10-7 до 1000 emu
  • Диапазон температур 4,2-1300 К
  • Напряжённость магнитного поля до 23 кЭ;
  • Предусмотрено вращение образца
  • Оснащён откачной системой и катушками Гельмгольца.
  • Имеет опцию измерения электросопротивления 

Контактное лицо: Балымов К.Г., email: k.g.balymov@urfu.ru

Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.285

3.4. Вибрационный магнитометр

Производитель: УрГУ им. А.М.Горького

Предназначен: для измерения магнитного момента плёночных образцов при комнатной температуре в зависимости от напряжённости магнитного поля

Основные характеристики:

  • Чувствительность – 10-4 emu
  • Диапазон измеряемых магнитных моментов от 10-3 до 10 emu
  • Напряжённость магнитного поля до 15 кЭ

Контактное лицо: Горьковенко А.Н., email: a.n.gorkovenko@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.373

3.5. Установка для измерений магнитосопротивления EPMD-2

Производитель: УрГУ им. А.М.Горького

Предназначена: для измерения зависимостей электрического сопротивления плёночных образцов от напряжённости магнитного поля при комнатной температуре.

Основные характеристики:

  • Реализованы двухзондовый и четырёхзондовый методы измерений
  • Диапазон измеряемых значений электросопротивления от 0,1 до 1000 Ом
  • Напряжённость двуполярного магнитного поля до 100 Э
  • Позволяет проводить испытания магниторезистивных сенсоров

Контактное лицо: Кудюков Е.В., email: e.v.kudyukov@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.158

3.6. Анализатор импеданса Agilent HP E 4991 A

Производитель: Agilent Technologies, США

Предназначен: для прецизионного измерения полного электросопротивления элементов электрических цепей в широком интервале частот протекающего тока

Основные характеристики:

  • Измеряемые параметры – |Z|, |Y|, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs(R), Rp, X, G, B, D, Q, θz, θy, |Γ|, Γx, Γy, θγ
  • Диапазон измеряемых значений модуля импеданса от 200 мОм до 20 кОм
  • Погрешность измерения импеданса: +/- 0.8%
  • Частота зондирующего тока от 1 МГц до 3 ГГц.
  • Разрешение по частоте зондирующего тока – 1 мГц.

Контактное лицо: Пасынкова А.А., email: anna.chlenova@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.269б

3.7. Аналитические весы МЕ 235S

Производитель: Sartorius, Германия

Предназначены: для лабораторных исследованиях при высоких требованиях к точности и надёжности измерений, большом потоке измерений, для организации весовых рабочих мест; могут использоваться в рамках системы обеспечения качества

Основные характеристики:

  • Предел взвешивания – 230 г
  • Цена деления – 10-5 г
  • Класс точности - 1
  • Калибровка автоматическая
  • Графический дисплей с подсветкой и текстовые подсказки оператору
  • Функция калибровки и юстировки isoCAL
  • Протоколирование в соответствии со стандартами ISO|GLP и возможность конфигурации протокола
  • Буквенно-цифровая идентификация образцов
  • Износостойкая клавиатура со специальным покрытием
  • Интерфейс связи Sartorius RS232 и второй интерфейс для принтера

Контактное лицо: Степанова Е.А., email: elena.stepanova@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.169,в

3.8. Установка для измерения электромагнитных параметров магнитомягких материалов УКМП 0,05-100

Производитель: НИИ СТТ (завод «Эдельвейс»)

Предназначена:для измерения  магнитных и электрических характеристик магнитопроводов из магнитомягких материалов; обеспечивается автоматическое измерение и расчет параметров магнитопровода.

Основные характеристики:

  • Диапазон частот перемагничивания 0,05-100 кГц
  • Высокая точность измерений
  • Измерение динамических магнитных характеристик согласно нормативно-технической документации
  • Специальное программное обеспечение для автоматического измерения параметров магнитопровода
  • Ведение базы данных измерений и формирование отчетов

Контактное лицо: Катаев В.А., email: vakataev@urfu.ru

Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.376

3.9.Комплекс Измерительно-вычислительный ММКС-05

Производитель: НИИ СТТ (завод «Эдельвейс»)

Предназначен: для определения статических магнитных характеристик образцов/сердечников, изготовленных из магнитомягких материалов (аморфных сплавов, прецизионных сплавов, электротехнических сталей)

  • Полная автоматизация операций измерения статических магнитных характеристик по методикам ГОСТ 8.377 и ГОСТ 12119.1;
  • Высокая точность измерения;
  • Большая номенклатура измеряемых и рассчитываемых параметров магнитопровода;
  • Программное обеспечение для автоматического измерения параметров магнитопровода, ведения базы данных измерений и формирования отчетов;
  • Основные характеристики:

    • Схема подключения образца для проведения измерений двухобмоточная;
    • Диапазоны задания и измерения амплитуды тока намагничивания, А: ±(0.0005…0.005), ±(0.005…0.05), ±(0.05…0.5), ±(0.5…5.0);
    • Погрешность задания и измерения постоянного тока намагничивания в диапазоне от 0,00015 до 5 А не более ±0,2 %;
    • Диапазоны измерения магнитного потока: ±(1...10) мкВБ, ±(10...100) мкВб, ±(100...1000) мкВб, ±(1...10) мВб, ±(10...100) мВб;
    • Относительная погрешность измерения магнитного потока на всех диапазонах, кроме 10 мкВб, не более ±0,5%, на диапазоне 10 мкВб не более ±1,0 %;
    • Напряжение питающей сети 220±22 В;
    • Частота питающей сети 50±0,5 Гц;

    Контактное лицо: Катаев В.А., email: vakataev@urfu.ru

    Размещение: кафедра магнетизма и магнитных наноматериалов, к.376

    3.10. Автоматизированная установка для измерения магнитокалорического эффекта «MagEqMMS»

    Производитель: ООО «Перспективные технологии и консультации», Россия, г. Москва

    Предназначена: для измерения прямым методом адиабатического изменения температуры, индуцируемого изменением магнитного поля, а так же теплоемкости в различных магнитных полях

    Основные характеристики:

    • рабочий диапазон температур – от 110 до 360 K;
    • диапазон магнитных полей – от 0.018 до 1.755 Тл;
    • скорость изменения магнитного поля – от 0.25 до 4.7 Тл/сек;
    • погрешность измерения адиабатического
      изменения температуры – 0.1 K;
    • относительная погрешность измерения теплоемкости – 3%;

    Контактное лицо: Зинин А.В., email: Zinin@urfu.ru

    Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.375в

    3.11. Измеритель свойств постоянных магнитов Permagraf-L

    Производитель:  Magnet Physik, Германия

    Предназначен: для измерения магнитных гистерезисных характеристик магнитотвердых материалов в диапазоне температур 293 – 473 °С

    Основные характеристики:

    • Напряженность магнитного поля до 32 кЭ
    • Нагрев образца до 200 °С..
    • Комплект компенсированных измерительных катушек для измерения свойств цилиндрических образцов диаметром от 5 до 40 мм
    • Комплект калибровочных сертифицированных образцов
    • Референсный образец магнитотвердого материала

    Контактное лицо:Семкин М.А., email: m.a.semkin@urfu.ru

    Размещение: отдел магнетизма твёрдых тел НИИ ФПМ, к.012